产品名称：上海仪电分析UV765CRT紫外可见分光光度计
型号：UV765CRT
是否有现货：
市场价格：￥
优惠价格：￥ (来电可议价)
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详情介绍
主要特点：
1. 比例双光束，保证极好的稳定性。
2. 超低的杂散光，优异的波长精确度。
3. 高清晰度大屏幕LCD显示，流畅的人机对话操作。
4. 长寿命石英涂膜光学部件。
5. 常规测量功能：光度测量、定量测定、光谱扫描、时间扫描。
6. 显示和储存各种数据和图谱，支持专用打印机。
7. 自动校正功能，确保每次测量数据准确。
8. 自动寻找灯源最佳位置，独立灯室，灯源更换简单方便。
9. 大样品室，自动8联样品架。
10. 自诊断功能，随时检查仪器状态和性能。
技术指标：
1. 波长范围：190nm～1100nm
2. 波长最大允许误差：±0.5nm
3. 波长重复性：≤0.2nm
4. 光谱带宽：2nm
5. 杂散光：≤0.05%（τ）（在220nm处，以NaI测定，在360nm处,以NaNO2测定）
6. 透射比测量范围：0.0%（T）～200.0% (T）
7. 吸光度测量范围：-0.301（A）～3.00(A)
8. 透射比最大允许误差：±0.3%（τ）
9. 漂移：≤0.001A/h
10. 透射比重复性：0.15%（T）
11. 基线平直度：±0.002A
12. 噪声：100%噪声≤0.15%（T） 0%噪声≤0.10%(T)
13. 扫描速度；快、中、慢
1. 比例双光束，保证极好的稳定性。
2. 超低的杂散光，优异的波长精确度。
3. 高清晰度大屏幕LCD显示，流畅的人机对话操作。
4. 长寿命石英涂膜光学部件。
5. 常规测量功能：光度测量、定量测定、光谱扫描、时间扫描。
6. 显示和储存各种数据和图谱，支持专用打印机。
7. 自动校正功能，确保每次测量数据准确。
8. 自动寻找灯源最佳位置，独立灯室，灯源更换简单方便。
9. 大样品室，自动8联样品架。
10. 自诊断功能，随时检查仪器状态和性能。
技术指标：
1. 波长范围：190nm～1100nm
2. 波长最大允许误差：±0.5nm
3. 波长重复性：≤0.2nm
4. 光谱带宽：2nm
5. 杂散光：≤0.05%（τ）（在220nm处，以NaI测定，在360nm处,以NaNO2测定）
6. 透射比测量范围：0.0%（T）～200.0% (T）
7. 吸光度测量范围：-0.301（A）～3.00(A)
8. 透射比最大允许误差：±0.3%（τ）
9. 漂移：≤0.001A/h
10. 透射比重复性：0.15%（T）
11. 基线平直度：±0.002A
12. 噪声：100%噪声≤0.15%（T） 0%噪声≤0.10%(T)
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